Разработка методики коррекции снимков электродных пятен, полученных анализатором структуры поверхности NEWVIEW 5010 - Максимов, Артем Дмитриевич; Азаркевич, Евгений Иосифович; Бекетов, Игорь Валентинович; Колеух, Диана Сергеевна (Materials. Technologies. Design, 2023)
Исследованы пятна одиночных искровых разрядов различной энергии (от 5 до 19 Дж), нанесенные на плоскую полированную поверхность электрода из железа в атмосфере воздуха. Пятна исследовались с помощью анализатора структуры поверхности NewView 5010 фирмы Zygo Corp. (США). Однако, изображения, полученные с помощью анализатора, имеют ряд артефактов, такие как отсутствующие точки данных, резкие выбросы и фоновый шум. Причинами их возникновения являются крутые уклоны поверхности пятен разряда, а также, по-видимому, низкая отражательная способность отдельных участков. Поскольку для анализа физических параметров пятен разряда желателен полный массив значений высот, была разработана методика восстановления изображений методом двумерной средневзвешенной интерполяции с последующим сглаживанием. На базе программной среды Mathcad разработана методика определения параметров кратеров разрядов, которая включает измерение площади, диаметра и объема каждого кратера, и получения их статистических характеристик. Кроме того, было разработано оконное приложение под операционную систему Windows, способное в явном виде интерполировать исходные данные микроскопа, создать визуальную карту высот и сохранить восстановленный массив данных в виде текстового файла.